Instrumentos Cientificos Análisis de Superficies: XPS Y SIMS

Análisis de Superficies: XPS Y SIMS

Análisis de Superficies por XPS

Líder en sistemas de espectrometría XPS para investigación en ciencia de materiales, producción y laboratorios analíticos.

Enfrente los mayores retos en superficies, películas delgadas e interfases con los espectrómetros XPS de Thermo Scientific. Nuestras innovaciones analíticas permiten a los cientoficos estar a la cabeza de las tendencias y desarrolos en campos como: ciencias de materiales, películas ultra delgadas y nanotecnología. Su facilidad de uso, un software de lo mejor en su clase y su capacidad de un manejo de alto número de muestras, ofrece resultados superiores para laboratorios de producción y analíticos.

Donde quiera que se tenga una nueva pregunta en análisis de superficies, ofrecemos nuestra línea de espectrómetros XPS, los cuales brindan el rendimiento y flexibilidad para lograr una respuesta confiable.

Análisis de Superficies por Espectrometría de Masa de Iones Secundarios

La espectrometría de masas de iones secundarios en tiempo de vuelo (TOF-SIMS) es una técnica analítica de superficies (nm) muy sensible (ppb) y bien establecida para aplicaciones de investigación y de control de calidad.


Ésta provee detallada información elemental y molecular de la superficie, capas delgadas, interfases de las muestras, y da un completo análisis tridimensional. Su uso es muy amplio, incluyendo semiconductores, polímeros, pinturas, recubrimientos, vidrio, papel, metales, cerámicos, biomateriales, farmacéuticos y tejidos orgánicos.


IONTOF de Alemania, lider mundial en instrumentación TOF-SIMS, a confiado su representación en Mexico a Intercovamex debido a sus mas de 20 años de experiencia en venta y soporte técnico de sistema de Ultra Alto Vacío para análisis de superficies. El TOF SIMS 5 y el TOF SIMS 300son la más reciente generación de instrumentos desarrollados por IONTOF en los últimos 25 años. Su diseño garantiza un rendimiento óptimo en todos los campos donde se aplica la técnica SIMS.