ANÁLISIS
ELEMENTAL
Ofrecemos equipos de:
Analizadores Químicos Elementales (XRF / LIBS)
Conocidos por ser muy rápidos y precisos en la identificación de una amplia variedad de materiales.
Analizadores Químicos Portátiles (XRF)
Descubre la revolución en análisis XRF Benchtop de Hitachi.
Análisis SIMS y LEIS de Alta Sensibilidad
Un instrumento LEIS extremadamente sensible a la superficie y proporciona una caracterización elemental cuantitativa de la capa atómica superior.
Espectrómetros De Foto-Electrones Inducidos Por Rayos X (XPS)
Contamos con espectrómetros de foto-electrones incluidos por rayos X (XPS). Estos equipos permiten realizar el análisis químico de películas muy delgadas.
Microscopía XRF
XGT-9000 Representa la evolución de la espectroscopía de fluorescencia de microrayos X, máximo rendimiento en velocidad y flexibilidad.
