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Análisis SIMS y LEIS de Alta Sensibilidad
Un instrumento LEIS extremadamente sensible a la superficie y proporciona una caracterización elemental cuantitativa de la capa atómica superior.
Los espectrómetros de iones secundarios (SIMS) y de dispersión de iones de baja energía (LEIS) de IONTOF te llevan al corazón de la materia con mediciones de concentraciones al nivel de partícula por billion (ppb).
QTAC
Un instrumento LEIS extremadamente sensible a la superficie y proporciona una caracterización elemental cuantitativa de la capa atómica superior.
- Caracterización elemental cuantitativa de la capa atómica superior
- Capacidades de espectroscopia, imágenes y perfiles de profundidad
- Filtrado de masas por tiempo de vuelo para mejorar la sensibilidad
- Análisis de materiales rugosos y no conductores
M6-TOF-SIMS
Su diseño garantiza un rendimiento superior en todos los campos de aplicaciones SIMS. Las innovadoras tecnologías de analizador de masas y haz de iones hacen del M6 el punto de referencia en instrumentación SIMS y la herramienta ideal para la investigación industrial y académica.
- Alta resolución lateral (< 50 nm) con Nanoprobe 50
- Resolución en masa > 30.000
- Modo exclusivo de extracción retardada para alta transmisión con alta resolución lateral y de masa simultáneamente
- Rango dinámico y límites de detección inigualables.
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