Difracción de Rayos x y Análisis Elemental
Fluorescencia de Rayos X Portátil (XRF)
Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
La fluorescencia de Rayos X por energía dispersiva (EDXRF) es la mejor elección difernetes aplicaciones como Pruebas No Destructivas, Identificación Positiva de Materiales, Geoquímica, Scrap y muchas más. La miniaturización de la tecnología permite ofrece instrumentos de alta calidad y con la facilidad de utilizarse en cualquier parte debido a su compacto tamaño y reducido peso.
Equipos de última generación de Fluorescencia de Rayos X siendo los equipos más ligeros…
El X-200 y el X-250 son los caballos de trabajo de SciAps con modelos tradicionales de XRF…
Espectroscopia de Plasma Inducido por Láser Portátil (LIBS)
Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
La Espectroscopia de Plasma Inducido por Láser es la revolución tecnológica para el análisis elemental. Similar a la Espectroscopia de Emisión Óptica, LIBS utiliza en su lugar un Láser de alta potencia para producir un plasma, tecnología que ha permitido miniaturizar la técnica a un equipo de mano y con la versatilidad del uso de purga de Argón para el análisis preciso de elementos livianos como el Carbón.
Si la necesidad de analizar elementalmente material se ve comprometida por regulaciones de uso…
Si el interés del usuario es únicamente el análisis de Carbón o Silicio y desea complementar…
Los equipos Z-300 y Z-903 de la vieja y nueva familia respectivamente son los equipos portátiles…
