Difracción de Rayos x y Análisis Elemental

Difracción de Rayos X

Difracción de Rayos X y Análisis Elemental

Análisis detallado de cualquier material, para investigación fundamental o control de calidad industrial, proporcionando soluciones futuras para usuarios de hoy, con aplicaciones cualitativas y cuantitativas que incluyen:
· Identificación de fases
· Análisis Cuantitativos
· Determinación de estructuras cristalinas
· Análisis PDF (dispersión total)
· Dispersión de Rayos X de Ángulo Bajo (SAXS)
· Reflectometría de Rayos X (XRR)
· Difracción de Rayos X de Alta Resolución (HRXRD)
· Mapeo Espacial Recíproco (RSM)
· Tensión Residual
· Textura (figuras polares)
· X-Ray Fluorescence

Caracterización no destructiva de las propiedades de los materiales. El portafolio de Difracción y Dispersión de Rayos X de Bruker permite un análisis detallado de cualquier material, desde la investigación fundamental hasta el control de calidad industrial, brindando soluciones prospectivas a nuestros clientes de hoy. Las aplicaciones de estas técnicas cualitativas y cuantitativas incluyen: - Identificación de fase - Análisis cuantitativo - Determinación de la estructura cristalina - Análisis de PDF (dispersión total) - Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) - Reflectometría de rayos X (XRR) - Difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD) - Mapeo del espacio recíproco (RSM) - Estrés residual - Textura (figuras polares)

Fluorescencia de Rayos X

Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
La fluorescencia de Rayos X por energía dispersiva (EDXRF) es la mejor elección para aplicaciones dedicadas en control de procesos y calidad que demanden fácil uso y tamaño compacto. Esta brinda flexibilidad analítica para tareas de investigación y monitoreo. También contamos con equipos de fluorescencia de Rayos X por longitud de onda dispersiva (WDXRF).

Espectrometría de Emisión Óptica

Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
Los OES cubren el análisis de elementos químicos y el rango completo desde niveles de sub-ppm a porcentajes tanto de análisis de trazas en metales puros, hasta aleaciones de alto grado. Todos los elementos importantes pueden ser analizados simultáneamente.

Microtomografía

Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
Imágenes 3D no destructivas basadas en Tomografía Microcomputarizada. La microscopía de Rayos X 3D únicamente habilita la imagen 3D de la estructura interna de sus muestras de una manera no destructiva. El método tecnológico en el que se basa es la micro tomografía computarizada, una tecnología de imágenes no destructiva. Éste es el mismo método utilizado para barridos CT médicos, pero a pequeña escala y con una resolución masivamente aumentada.

Análisis de CS/ONH

Difracción de Rayos X y Análisis Elemental
Análisis elemental preciso y rápido de carbón, azufre, oxígeno, nitrógeno e hidrógeno. La concentración de Oxígeno, Nitrógeno e Hidrógeno en metales y otros materiales inorgánicos, es determinada en base al método de fusión de gas inerte (IGF). La muestra sólida es fundida en un crisol de grafito a altas temperaturas y es transportada a los detectores usando un flujo de gas de acarreo y gases de proceso.