Microscopía y Análisis de Superficies
Microscopia de Barrido por Sonda
Microscopía y Análisis de Superficies
Equipo totalmente equipado con más de 10 modos de trabajo, capaz de admitir upgrades para trabajar en…
El equipo más rápido y avanzado del mercado, cuenta con 17 modos de trabajo y con la posibilidad de…
Microscopios Ópticos y Digitales
Microscopía y Análisis de Superficies
Equipos que tienen el propósito de la evaluación superficial a nivel micrómetro para determinar fallas en la producción, errores de colocación, corroborar la calidad del producto o simplemente entender como es la estructura superficial de una pieza o muestra. Adicionalmente nos permiten realizar análisis de curvatura, diámetros, tamaño de poro, tamaño de grano, incrustaciones y reconstrucción 3D y además que cumplen normas nacionales e internacionales para los procesos más rigurosos de control de calidad.
Analice los sensores MEMS más pequeños hasta una oblea XXL o incluso pantallas planas completas sin destruirlas…
ZEISS Smartzoom 5 es su microscopio digital inteligente, ideal para aplicaciones de control y garantía de calidad en prácticamente todos los campos de la industria…
Máquinas de Coordenadas (CMM)
Microscopía y Análisis de Superficies
Equipos diseñados para verificación e inspección de piezas terminadas en líneas de producción de diversas aplicaciones. Con estos equipos podemos realizar evaluaciones de diámetros, redondez, especificaciones de producción, conocer la incertidumbre de nuestras piezas y procesos pero sobre todo mantener la calidad siempre al 100%. Estos equipos funcionan tanto con palpadores que realizan contacto directo con las piezas hasta con sensores ópticos que nos permiten una doble verificación en cualquier medición.
¿El plan de producción de su empresa debe cumplirse? ¿Razones de crecimiento realizadas? ¿No hay tiempo para quejas y productividad reducida, causada por la detección de errores omitidos de piezas defectuosas?…
El sensor de cámara ZEISS Discovery.V12 ofrece un grado variable de aumento. En comparación con las lentes convencionales, ofrece un campo de visión cuatro veces mayor…
ZEISS CONTURA le permite estar preparado hoy para los requisitos de medición del mañana: la nueva generación está equipada con la tecnología de masas…
Análisis de Superficies
Microscopía y Análisis de Superficies
El sistema NEXSA es el nuevo modelo XPS multitécnicas completamente automatizado al que se le pueden agregar otras…
El sistema K-Alpha posee un monocromador de rayos X microenfocados de alto desempeño que le permite al usuario…
Instrumentación ampliable, optimizada y multitécnica con una flexibilidad y modularidad sin igual, el ESCALAB Xi + es extremadamente…
El Qtac es un instrumento de alta sensibilidad. Es extremadamente sensible a la superficie, proporcionando…
El TOF.SIMS 5 es la última generación de instrumentos TOF-SIMS de gama alta desarrollados durante…
Microscopía Electrónica
Microscopía y Análisis de Superficies
Esta técnica se basa en la interacción de los electrones con la materia y la forma de obtener información tanto estructural como de caracterización de defectos. En la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM del inglés “Scanning Electron Microscopy”), los electrones secundarios de baja energía (<50 eV) son emitidos de la superficie de la muestra y se pueden utilizar para dar un tipo de imagen.
La serie TM4000 II presenta una tecnología innovadora y de vanguardia que redefine las capacidades de un…
El FlexSEM 1000 VP-SEM combina características tecnológicas innovadoras con una interfaz intuitiva, para ofrecer…
