MICROSCOPÍA Y
ANÁLISIS DE SUPERFICIES
Ofrecemos equipos de:
Metrología por Vídeo / Rayos X
Contamos con sistemas de metrología Thorlabs que miden y caracterizan de forma rápida y precisa una variedad de componentes y materiales. Desde sistemas de medición por vídeo hasta sistemas de medición por rayos x.
AFM-IR
Molecular Vista es una empresa líder especializada en herramientas de espectroscopia y microscopia a nanoescala. Su misión es cartografiar, comprender y resolver a nivel molecular.
Análisis SIMS y LEIS de Alta Sensibilidad
Un instrumento LEIS extremadamente sensible a la superficie y proporciona una caracterización elemental cuantitativa de la capa atómica superior.
Espectrómetros De Foto-Electrones Inducidos Por Rayos X (XPS)
Contamos con espectrómetros de foto-electrones incluidos por rayos X (XPS). Estos equipos permiten realizar el análisis químico de películas muy delgadas.
Estereomicroscopios
Descubre los microscopios SteREO disponibles en varias versiones para la industria y la investigación científica.
Microscopios de Barrido por Sonda
Descubre los de equipos AFM y STM que manejamos. Ideales para investigación y control de calidad. ¡Pregunta por estos y otros modelos disponibles!
Microscopios Ópticos
Descubre los microscopios Axio disponibles en varias versiones para la industria, la investigación científica y para tareas de rutina.
Microscopios SEM FE
Encuentra los mejores equipos de Microscopía electrónica de Barrido en la versión Field Emission.
Microscopios SEM SU
Encuentra los mejores equipos de Microscopía lectrónica de Barrido en la versión SU.
Microscopios SEM TABLETOP
Encuentra los mejores equipos de Microscopía lectrónica de Barrido en la versión tabletop.
Software para Análisis de Superficies
Mountains es el software de imagen, análisis y metrología de superficies. Conoce sus distintas versiones.
