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LCS-400 Series Analytical Probe Station with Laser Cutting Sytem

La estación de sondas analíticas de la serie LCS-4000 con sistema de corte por láser brinda al usuario la máxima flexibilidad en el corte para diagnóstico de semiconductores, el análisis de fallas, el recorte, el marcado y la eliminación de la capa superior. Todas estas funciones se pueden realizar a nivel microscópico en este único sistema, lo que proporciona un alto nivel de rendimiento y es notablemente fácil de usar. El LCS-4000 se ofrece como un sistema de configuración motorizado, semiautomático o totalmente automatizado y se puede configurar fácilmente para una amplia gama de aplicaciones con una variedad de opciones de diseño y accesorios disponibles.
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