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Espectrómetros De Foto-Electrones Inducidos Por Rayos X (XPS)
Contamos con espectrómetros de foto-electrones incluidos por rayos X (XPS). Estos equipos permiten realizar el análisis químico de películas muy delgadas.
Los espectrómetros de foto-electrones incluidos por rayos X (XPS) permiten realizar el análisis químico de películas muy delgadas (algunos nanómetros de espesor) y hacer mapeo de la repartición de los elementos en la superficie con resolución de algunos micrones. Además, se pueden obtener perfiles de la concentración de estos elementos en función de la profundidad en la cual se encuentran (con o sin erosión de la superficie). En algunos sistemas se puede agregar algunas técnicas complementarias como AES, SEM, UPS, SIMS, Raman, etc.
Contamos con más de 50 años de experiencia en instalación y mantenimiento de sistemas de análisis de superficies por XPS de diversas marcas.
Contáctanos para mayor información y nuestros especialistas te apoyaran para elegir el XPS correcto conforme a tus necesidades y presupuesto.
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