F-3

Los instrumentos de reflectancia espectral de la serie F-3 realizan mediciones de capas semiconductoras y dieléctricas de hasta 3 mm de espesor. El F-3 cuenta con un diámetro de spot de 10 micras. Con el F-3 se pueden medir fácilmente los materiales que son imposibles con otros instrumentos y en fracción de segundos. También tiene la capacidad de medir el índice de refracción con una pequeña actualización de software.