Los SEM de emisión de campo de resolución ultra alta y confiabilidad probada (FE-SEM) representan la culminación de décadas de innovación en la visualización de estructuras nanométricas. Con una resolución excepcional y una capacidad de ampliación que desafía los límites convencionales, ofrecen una visión sin precedentes del mundo subatómico.
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SU5000
El innovador FE-SEM analítico permite una transición sencilla entre el modo de alto vacío y presión variable. EM Wizard es un sistema basado en conocimientos para imágenes SEM que va más allá de las condiciones y recetas básicas preestablecidas. Su facilidad de uso abre una nueva puerta para la investigación y el desarrollo de materiales y áreas más allá de nuestra imaginación.

SU8700
El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de resolución ultra alta a la línea de larga data de Hitachi EM. Esta revolucionaria plataforma FE-SEM incorpora imágenes multifacéticas, alta corriente de sonda, automatización, flujos de trabajo eficientes para usuarios de todos los niveles de experiencia y más.

SU9000II
La fuente de emisión de campo frío es ideal para obtener imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una distribución de energía pequeños. La innovadora tecnología CFE Gun aporta lo último en FE-SEM con brillo y estabilidad del haz superiores, lo que permite obtener imágenes de alta resolución y análisis elemental de alta calidad.
Para permitir una adquisición de datos estable en los niveles de rendimiento más altos del instrumento, el SU9000II ofrece nuevas capacidades que realizan ajustes automatizados del sistema óptico y el nuevo paquete de software EM Flow Creator como una opción para realizar la adquisición de datos automatizada, particularmente la recopilación de datos secuencial.
Además, el diseño único del sistema óptico tiene la capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales.