NanoFlip

El nanoindentador NanoFlip mide la dureza, el módulo, la resistencia de la fluencia y otras pruebas nanomecánicas en condiciones ambientales y de vacío. El NanoFlip es compatible para vacío y puede realizar pruebas in situ dentro de microscopios electrónicos de barrido (SEM) y sistemas de haz de iones enfocados (FIB). También se puede utilizar en condiciones ambientales con microscopios, microscopios de fuerza atómica (AFM) y perfilómetros 3D.