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P-17 Stylus Profiler

El Perfilómetro P-17 ofrece la capacidad de medición de altura de un perfil en pasos y cuenta con un control de fuerza a lo largo de todo el escaneo, desde pocos nanómetros hasta un milímetro para ambientes de investigación y producción. El sistema permite mediciones 2D y 3D de altura de perfil, rugosidad, arco y estrés para escaneos mayores a 200 mm de longitud en una operación.

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