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Reflectancia
Contamos con una gama completa de equipos ideales para cualquier aplicación de investigación, académica e industrial.
Los analizadores de películas delgadas nos permiten realizar mediciones tales como espesor, índice de refracción y rugosidad, todo en cuestión de segundos y a un costo muy accesible. ¡Contáctanos para conocer otros modelos!
F20
Permite medir el espesor y el índice de refracción en menos de un segundo. El F20 se conecta al puerto USB de tu computadora con Windows® y se configura en minutos.
F60-c
Sistema automatizado de mapeo de espesor de película delgada de casete a casete para entornos de producción. Mapea el espesor y el índice de la película y también incluye una serie de funciones diseñadas específicamente para entornos de producción.
F10-ARc
Permite medir fácilmente superficies curvas, incluidos los revestimientos antirreflectantes de gafas y otras lentes ópticas. Realiza mediciones precisas de color y reflectancia en solo segundos; las mediciones de espesor de película también son una opción.
F50
Puede mapear el espesor de la película tan rápido como dos puntos por segundo. Una platina R-Theta motorizada acepta mandriles estándar y personalizados para muestras de hasta 450 mm de diámetro.
F3-sX
Mide capas semiconductoras y dieléctricas de hasta 3 mm de espesor. Estas capas gruesas tienden a ser más rugosas y menos uniformes que las capas más delgadas, lo que el F3-sX contrarresta con un punto de medición de 10 µm de diámetro.
Tiene menú contextual.
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