XploRA Nano

AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
Sistema totalmente integrado basado en el microscopio de sonda de barrido de última generación SmartSPM y el microespectrómetro XploRA Raman.
Compacto, totalmente automatizado y fácil de usar, el XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, lo que hace que las imágenes TERS sean una realidad para todos. El sistema probado TERS.

Caracteristicas:
Plataforma de análisis de muestras múltiples
Las mediciones a macro, micro y nanoescala se pueden realizar en la misma plataforma.

Facilidad de uso
Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.

Confocalidad verdadera
Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización de microscopio.

Alta eficiencia de recolección
Detección Raman de arriba hacia abajo y oblicua para una resolución y un rendimiento óptimos tanto en mediciones co-localizadas como con punta mejorada (Raman y fotoluminiscencia).

Alta resolución espectral
Máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con conmutación automatizada, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL.

Alta resolución espacial
Resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) mediante espectroscopias ópticas mejoradas con punta (Raman y fotoluminiscencia).

Multi-técnica / Multi-ambiente
Numerosos modos SPM, incluidos AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, junto con mapeo químico a través de TERS / TEPL. Control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente software de control, SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente

Robustez / Estabilidad
Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, funcionamiento lejos de ruidos. Se obtiene un alto rendimiento sin aislamiento de vibraciones activo.